Biblioteca Digital de Eventos Científicos da UFPR, II Simpósio de Métodos Numéricos em Engenharia

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Inferência Bayesiana para testes acelerados "step-stress" simples com dados de falha sob censura tipo II e distribuição Gama.
Karlla Delalibera Chagas, Fernando Antonio Moala

Última alteração: 17-10-2017

Resumo


Neste trabalho temos o intuito de realizar um estudo sobre como modelar dados que advém de um teste acelerado. Para isso, iremos considerar o caso em que a carga de estresse aplicada foi do tipo "step-stress" simples. Para a modelagem, utilizaremos o modelo "step-stress" simples com censura tipo II, e iremos considerar que os tempos de vida dos itens em teste seguem uma distribuição Gama. Será realizada uma abordagem clássica, por meio do método de máxima verossimilhança, e também uma abordagem Bayesiana, usando prioris Gama, para estimar os parâmetros da distribuição. Temos como objetivo realizar a comparação destes dois métodos por meio de simulações para diferentes tamanhos amostrais, e através de alguns índices, iremos verificar qual desses dois métodos inferenciais se aproxima mais dos verdadeiros valores dos parâmetros.

Palavras-chave


Testes acelerados; Step-Stress; MCMC; Máxima Verossimilhança; Distribuição Gama.

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